Размер шрифта
Цветовая схема
Изображения
Обычная версия сайта

Отделение тонких физических методов исследования структуры материалов

Отделение тонких физических методов исследования структуры материалов

Структура


Лаборатория электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа

Оборудование: Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV JEOL (Япония, 2008) с системой микроанализа INCA Energy 350, Oxford Instruments (Великобритания, 2008)

Электронный растровый микроскоп JSM-6510LV JEOL предназначен для исследования тонкой структуры биологических, полимерных, строительных материалов, стекол, металлов, сплавов и т.д. во вторичных, отраженных и поглощенных электронах, а также для исследования поверхности изломов путем визуального наблюдения и фотогравирования. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д. Встроенный рентгеноспектральный анализатор INCA Energy 350 позволяет проводить анализ в точке, по профилю и картирование по площади.

Настольная установка JFC-1600 предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии. Катод напылительной установки JFC-1600 содержит постоянный магнит для создания тлеющего разряда, а продувка газообразным аргоном позволяет осуществлять более эффективное напыление образца. Такое техническое решение делает модель JFC-1600 уникальной и не имеющей аналогов среди напылительных установок, производимых в России и мире.

Технические характеристики

Параметры Значения
Пространственное разрешение в высоком вакууме (HV) 3 нм
Пространственное разрешение в низковакуумном режиме (LV) 4 нм
Увеличение от 5 до 300 000
Детекторы SEI - изображение во вторичных электронах
BEIW - изображение в обратно-рассеянных электронах
Максимальный размер образца 150 мм (диаметр)
Система вакуумной откачки пластинчато-роторный форвакуумный насос
Столик образцов 5 координат (X, Y, Z, T, R)

Оказываемые услуги

  1. Проведение исследований поверхности различных материалов с высоким разрешением в двух режимах (HV, LV).
  2. Исследование изломов и повреждений поверхности с целью выявления особенностей поверхности разрушения.
  3. Определение качественного и количественного состава образцов в диапазоне элементов от бора до урана.

Исследование структуры металлических покрытий

Качественный и количественный анализ состава образцов

Кадровый состав

  • Старший научный сотрудник – канд. техн. наук Жигжитова Сэсэгма Батоевна
  • лаборант - Мишигдоржийн Ундрах Лхагвасуренович

Лаборатория рентгеноструктурного анализа

Оборудование: Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7 (НПП «Буревестник», г. Санкт-Петербург, 2008)

Дифрактометр ДРОН-7 предназначен для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.

Рентгеновская дифрактометрия позволяет неразрушающим методом осуществить:

  • контроль фазового состава вещества;
  • определять метрики кристаллической решетки;
  • выявлять различные типы дефектов;
  • анализ напряженного и текстурированного состояния;
  • исследование атомной структуры.

Технические характеристики:

Рентгенооптическая схема Брэгг-Брентано
Диапазон углов сканирования ,2θ° -100 ÷ +168
Минимальный шаг сканирования,2θ° 0,001
Точность позиционирования,2θ и θ° ±0,005
Транспортная скорость,°/мин 500
Скорость счета, имп/с 5•105

Области применения: органическая и неорганическая химия, физика твердого тела, электроника, геология и горнодобывающая промышленность, минералогия, металлургия, машиностроение, строительство, материаловедение, фармакология, криминалистика и другие.

Оказываемые услуги

  • качественный анализ фазового состава материалов, продукции, сырья и промышленных отходов;
  • исследование фазовых превращений и реакций;
  • анализ изменений структурных характеристик кристаллических материалов.

Расчет теоретической дифрактограммы соединения оксида алюминия

Качественный анализ фазового состава исследуемых образцов

Кадровый состав:

научный сотрудник - Алсагаров Владимир Ильич