Структура
Оборудование: Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV JEOL (Япония, 2008) с системой микроанализа INCA Energy 350, Oxford Instruments (Великобритания, 2008)
|
|
Электронный растровый микроскоп JSM-6510LV JEOL предназначен для исследования тонкой структуры биологических, полимерных, строительных материалов, стекол, металлов, сплавов и т.д. во вторичных, отраженных и поглощенных электронах, а также для исследования поверхности изломов путем визуального наблюдения и фотогравирования. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д. Встроенный рентгеноспектральный анализатор INCA Energy 350 позволяет проводить анализ в точке, по профилю и картирование по площади. |
Настольная установка JFC-1600 предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии. Катод напылительной установки JFC-1600 содержит постоянный магнит для создания тлеющего разряда, а продувка газообразным аргоном позволяет осуществлять более эффективное напыление образца. Такое техническое решение делает модель JFC-1600 уникальной и не имеющей аналогов среди напылительных установок, производимых в России и мире. |
Технические характеристики
Параметры | Значения |
Пространственное разрешение в высоком вакууме (HV) | 3 нм |
Пространственное разрешение в низковакуумном режиме (LV) | 4 нм |
Увеличение | от 5 до 300 000 |
Детекторы | SEI - изображение во вторичных электронах BEIW - изображение в обратно-рассеянных электронах |
Максимальный размер образца | 150 мм (диаметр) |
Система вакуумной откачки | пластинчато-роторный форвакуумный насос |
Столик образцов | 5 координат (X, Y, Z, T, R) |
Оказываемые услуги
Исследование структуры металлических покрытий |
Качественный и количественный анализ состава образцов |
Кадровый состав
Лаборатория рентгеноструктурного анализа
Оборудование: Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7 (НПП «Буревестник», г. Санкт-Петербург, 2008)
Дифрактометр ДРОН-7 предназначен для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Рентгеновская дифрактометрия позволяет неразрушающим методом осуществить:
Технические характеристики:
Рентгенооптическая схема | Брэгг-Брентано |
Диапазон углов сканирования ,2θ° | -100 ÷ +168 |
Минимальный шаг сканирования,2θ° | 0,001 |
Точность позиционирования,2θ и θ° | ±0,005 |
Транспортная скорость,°/мин | 500 |
Скорость счета, имп/с | 5•105 |
Области применения: органическая и неорганическая химия, физика твердого тела, электроника, геология и горнодобывающая промышленность, минералогия, металлургия, машиностроение, строительство, материаловедение, фармакология, криминалистика и другие.
Оказываемые услуги
Расчет теоретической дифрактограммы соединения оксида алюминия |
Качественный анализ фазового состава исследуемых образцов |
Кадровый состав:
научный сотрудник - Алсагаров Владимир Ильич